时代涂层测厚仪TT230表面漆膜涂镀层测厚仪
格信达科技上海(021)分部网点授权提供的北京时代TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
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上海国产工厂品牌 TT230 漆膜测厚仪参数规格介绍
测头类型:N
测量原理:电涡流
测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式:一体化
示值误差:
一点校准(um):±[3%H+1.5]
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
测量条件:
最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
基体最小面积的直径(mm):ф5
最小临界厚度(mm):0.3
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
TT230涂层测厚仪符合以下标准: GB/T 4957-1985 涡流方法、JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》、JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量,广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
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